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便攜式探傷儀

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便攜式探傷儀.jpg

便攜式TOFD超聲波檢測儀

TOFD及PE多通道掃查一次性全覆蓋200mm厚度焊縫

◆ 滿足 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN 14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等標(biāo)準(zhǔn)及新容規(guī)、鍋規(guī)的指標(biāo)要求;

◆ 具有/T 4730推薦使用的TOFD缺陷測長功能——合成孔徑聚焦(SAFT),還原缺陷特征;

◆ 具有長續(xù)航時(shí)間、高檢測效率、人性化的操作界面,現(xiàn)場使用性良好,可實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場遠(yuǎn)程控制及自動掃查:

→ 提供滿足企業(yè)特殊要求的軟件定制服務(wù)。

→ 提供滿足現(xiàn)場特殊檢測要求的手動、 自動掃查器及硬件配置定制服務(wù)。

◆ 特種行業(yè)TOFDⅡ級人員資質(zhì)培訓(xùn)考核樣板機(jī)。

HYT-98S性能特點(diǎn)

A 特優(yōu)點(diǎn)

→ 全中文菜單式友好操作界面,方便快捷;

→ 亮彩色液晶顯示,可根據(jù)不同現(xiàn)場環(huán)境改變;

→ 超聲衍射波成像檢測,解決傳統(tǒng)放射檢測的掃查

厚度及檢測效率局限性,節(jié)約探傷成本;

→ 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、

導(dǎo)波成像等多能一體;

→合成孔徑聚焦技術(shù),領(lǐng)潮行業(yè),提高缺陷

測量精度;

→ 波形相位穩(wěn)定,信噪比高,缺陷識別更清晰;

→ 內(nèi)置現(xiàn)場檢測工藝模型,自動生成檢測工藝;

→ 便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各

種工件檢測要求;

→ 多通道TOFD檢測實(shí)現(xiàn)大厚壁焊縫一次性覆蓋;

→ 超大機(jī)內(nèi)存儲空間及便捷的文件網(wǎng)絡(luò)傳輸功能;

→ 高分子復(fù)合材料機(jī)身,防震、抗跌落;

→ 集成數(shù)據(jù)電纜,裝卸方便,信號傳輸損耗?。?/p>

→ 高性能安保鋰電,模塊插接,一機(jī)兩電,超長續(xù)航。

B探傷功能

掃查方式:對焊縫進(jìn)行非平行、平行掃查

缺陷定位:分析軟件直接讀出缺陷位置、、自身高度

缺陷顯示:直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點(diǎn)

A型掃描:射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價(jià)能力

B掃成像:實(shí)時(shí)顯示缺陷截面形狀

C掃成像:實(shí)時(shí)顯示缺陷俯視成像

D掃成像:實(shí)時(shí)顯示缺陷的灰度掃查圖,直觀顯示缺陷并對

缺陷質(zhì)量進(jìn)行評價(jià)

P掃成像:實(shí)時(shí)空氣超聲定位,對缺陷進(jìn)行三維描述,提高

缺陷判性準(zhǔn)確率

導(dǎo)波成像:對薄壁工件進(jìn)行一維掃查,獲取二維成像

C 掃描范圍

多路TOFD檢測和PE檢測覆蓋200mm厚度以內(nèi)的分區(qū)

掃查;可擴(kuò)展至400mm厚度。

D 數(shù)據(jù)分析

直通波去除:近表面缺陷專用處理工具,提高近表缺陷分析精度

橫豎調(diào)整:滿足不同現(xiàn)場操作習(xí)慣

SAFT:國際公認(rèn)提高缺陷測量精度的功能

E數(shù)據(jù)存儲與輸出

→預(yù)先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù),方便存儲、調(diào)出、離線分析、

復(fù)驗(yàn)、打印、通訊傳輸。

→超大內(nèi)存容量,單次掃查可多記錄40米。

→掃查圖像、文件可根據(jù)使用要求自動保存、自動編名。

→支持雙USB拷貝、網(wǎng)絡(luò)傳輸、外接顯示器等。


技術(shù)參HYT-98S數(shù)

頻帶寬度:0.3-22MHz

脈沖電壓:-400V

脈沖前沿:<10ns

重復(fù)頻率:1000Hz(每通道)

平均次數(shù):8

采樣      :512,1024

匹配阻抗:25,500

檢波方式:數(shù)字檢波

增益范圍:0dB-110dB波形顯示方式:射頻波,

檢波(全檢、負(fù)或正半檢波),

信號頻譜(FFT)

掃描延時(shí):0~500us可控0.008us精度

掃查定位:時(shí)基(內(nèi)置實(shí)時(shí)時(shí)鐘-0.02秒精度)/真實(shí)位置(增量編碼器-0.5mm精度)

成像模式:根據(jù)選擇的操作模式和相應(yīng)的儀器配置及設(shè)置顯示連續(xù)A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導(dǎo)波成像

直線掃查長度:0-40米

記錄方式:完全原始數(shù)據(jù)記錄

離線分析:恢復(fù)和回放掃查時(shí)記錄的A掃波形

缺陷尺寸測量和輪廓描述

厚度/幅度數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析

記錄轉(zhuǎn)換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel

數(shù)據(jù)報(bào)告:直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導(dǎo)波檢


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